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安規(guī)儀器

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泛美超聲測(cè)厚探頭 Olympus NDT為用戶提供系列完備、用于腐蝕測(cè)厚儀的雙晶片和單晶片探頭。該系列大部分探頭都能與自動(dòng)探頭識(shí)別功能兼容，因而提高了檢測(cè)效能。
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D790美國(guó)泛美D790超聲測(cè)厚儀探頭

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激光測(cè)距儀TM600

更新時(shí)間：2025-06-07

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